電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutionsx
電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions漆包線用于電機繞組。 在漆包線廠家的研發(fā)和產(chǎn)品的檢驗、電機廠家的驗收和材料開發(fā)中,根據(jù)JIS C 3216-5測量介電損耗角正切 (tan δ),測試漆包線的性能。
測試對象
用于電機繞組的漆包線(電磁線)和絕緣膜
電機的研發(fā)、電機生產(chǎn)中的驗收檢驗
介電損耗角正切 (tan δ) 表示物質(zhì)內(nèi)部能量損失的程度
介電損耗角正切(tan δ)是表示物質(zhì)內(nèi)部能量損失程度的指標。 如果介電損耗角正切較高,則材料內(nèi)部的能量損失會很大。 此外,能 量損失過程中產(chǎn)生的熱量會加速絕緣材料的劣化。通過在電機繞組中使用具有介質(zhì)損耗角正切的漆包線,可以開發(fā)和生產(chǎn)出能量損失 小、耐用性高的電機。 此外,介電損耗角正切 (tan δ) 取決于溫度和頻率。安裝在電動汽車中的電機在高于 200°C 的溫度下由高于工頻 的頻率控制。 必須測量與溫度和頻率變化相對應(yīng)的介電損耗角正切 (tan δ)。
基于 JIS C 3216-5 的介電損耗角正切試驗
JIS C 3216-5規(guī)定了介電損耗角正切(tanδ)試驗作為評價漆包線薄膜在規(guī)定溫度和頻率下性能的方法?;跇藴实慕殡姄p耗角正切試驗 中,會使用阻抗測試儀。此外,使用金屬浴或金屬塊作為保持溫度的裝置。(圖1)漆包線和薄膜的等效電路是電容和電阻的并聯(lián)電路。 (圖 2)當向該電路施加交流電壓時,會出現(xiàn)比電壓 E 超前近 90° 的電流 I。 (圖 3) 損耗角 δ 由電流 I 的 Y 軸分量 Ic 和 X 軸分量 Ir 的三角 形表示,這個 Ir 和 Ic 的比值就是介電損耗角正切(tan δ)。如果漆包線薄膜的絕緣性較差,則介電損耗角正切(tanδ)會很高。此外,隨 著溫度的升高,介電損耗角正切(tan δ)的值會從某個溫度升高。(圖4)即使增加阻抗測試儀的測量頻率,介電損耗角正切(tanδ) 也顯示出高值。
測試設(shè)備和測試方法
【測試方法】
?開始測試前對 LCR ???進行開路補償。
?將漆包線(直徑 0.9 mm)浸入熔化的焊料中。
?使用金屬浴將焊料溫度從 40°C 以 10°C 的增量升高。
?用 LCR 測試儀測量每個溫度的???????。
?在多個測量頻率下測量???????。
?在 個溫度下??????? LCR 測試儀 短路補償。
?使用 Sequence Maker * 記錄測量數(shù)據(jù)。
*Sequence Maker 是免費的 Excel? 插件??赏ㄟ^Excel? 控制 LCR 測試儀切換測量頻率并收集測量數(shù)據(jù)。 詳情請參閱專題網(wǎng)站。
(https://sequencemaker.hioki.com/ja/)
使用儀器
測試儀 L | IM3536 | HIOKI 產(chǎn)品 |
SMD測試夾具 | LR8515 | HIOKI 產(chǎn)品 |
數(shù)據(jù)采集儀 | ||
K型鎧裝熱電偶 | UⅡ-1H-M | 小池精密機器制作所((//http:www.k-p-i.net/ |
金屬浴 | 定制品 | 用于填充焊料,帶有邊沿防止泄漏 |
鋁塊 |
實時數(shù)據(jù)
? 測量頻率越高,tan δ 值越高。
? 在 1 kHz 測量頻率下,tan δ 從 190 °C 起由恒定狀態(tài)開始迅速升高。
? 測量頻率越高,溫度上升越快。
?介電損耗角正切試驗的測量頻率和溫度評估范圍根據(jù)要評估的產(chǎn)品規(guī)格而定。
?LCR 測試儀 IM3536 可以將測量頻率設(shè)置為 4 Hz 至 8 MHz。
?金屬浴 MB-1H-U II(http://www.k-p-i.net/ 由小池精密機器制作所制造)的溫度最高可設(shè)置為 300°C。
?Sequence Maker (https://sequencemaker.hioki.com/ja/) 是一個免費的 Excel? 插件。
?通過 Excel?,可以控制 LCR 測試儀切換測量頻率并收集測量數(shù)據(jù)。